Sa panahon ng pagmamanupaktura ng flat panel display (FPD), ang mga pagsubok upang suriin ang paggana ng mga panel at mga pagsubok upang suriin ang proseso ng pagmamanupaktura ay isinasagawa.
Pagsubok sa panahon ng proseso ng array
Upang masubukan ang function ng panel sa proseso ng array, isinasagawa ang array test gamit ang array tester, array probe at probe unit.Idinisenyo ang pagsubok na ito para subukan ang functionality ng TFT array circuits na nabuo para sa mga panel sa mga glass substrate at para makita ang anumang sirang wire o shorts.
Kasabay nito, upang subukan ang proseso sa proseso ng array upang suriin ang tagumpay ng proseso at feedback sa nakaraang proseso, isang DC parameter tester, TEG probe at probe unit ay ginagamit para sa TEG test.(“TEG” ay kumakatawan sa Test Element Group, kabilang ang mga TFT, capacitive elements, wire elements, at iba pang elemento ng array circuit.)
Pagsubok sa Proseso ng Unit/Module
Upang masubukan ang pag-andar ng panel sa proseso ng cell at proseso ng module, isinagawa ang mga pagsubok sa pag-iilaw.
Ang panel ay isinaaktibo at iluminado upang magpakita ng pattern ng pagsubok upang suriin ang pagpapatakbo ng panel, mga depekto sa punto, mga depekto sa linya, chromaticity, chromatic aberration (hindi pagkakapareho), contrast, atbp.
Mayroong dalawang paraan ng inspeksyon: inspeksyon ng visual panel ng operator at automated na inspeksyon ng panel gamit ang isang CCD camera na awtomatikong nagsasagawa ng defect detection at pass/fail testing.
Ang mga cell tester, cell probe at probe unit ay ginagamit para sa inspeksyon.
Gumagamit din ang module test ng mura detection at compensation system na awtomatikong nakakakita ng mura o unevenness sa display at nag-aalis ng mura na may light-controlled na kabayaran.
Oras ng post: Ene-18-2022